CPICS-LBP: 新颖的梯度特征描述子
《Classification of Manufacturing Defects in Multicrystalline Solar Cells With Novel Feature Descriptor》
代码：https://download.****.net/download/qq_38784454/11203073
读者欲使用此方法，请引用此论文，非常感谢。
此方法是基于CS-LBP的改进，此方法就是要确定中心像素与周围像素的梯度关系，将中心像素与一个阈值（邻域像素的平均值）比较，如果大于此阈值则产生二进制码1，否则产生0。将产生的二进制码编入CS-LBP中即可。计算实例如下图：
改进后此方法对梯度信息的描述能力更强，并对复杂背景抗干扰能力增强。下图为改进前后效果对比：